- RS Best.-Nr.:
- 161-0873
- Herst. Teile-Nr.:
- NB4N527SMNEVB
- Marke:
- ON Semiconductor
Nicht mehr im Sortiment
- RS Best.-Nr.:
- 161-0873
- Herst. Teile-Nr.:
- NB4N527SMNEVB
- Marke:
- ON Semiconductor
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Rechtliche Anforderungen
Produktdetails
ON Semiconductor hat eine Evaluierungsplatine für das NB4N527S-Gerät entwickelt, um Kunden, die an einer eigenen Bewertung der Gerätetechnik interessiert sind, die Möglichkeit zu geben, diese zu testen. Diese Platine bietet eine Umgebung mit hoher Bandbreite und 50 Ω kontrollierter Impedanz. Die 16-polige QFN-Evaluierungsplatine ist in vier Schichten mit geteilten (dualen) Netzteilen ausgeführt.
Maximale Eingangs-Taktfrequenz bis zu 1,25 GHzMaximale Eingangsdatenrate von bis zu 2,5 Gb/s500 ps Maximale Laufzeitverzögerung2 ps Maximum RMS-Jitter300 ps Maximale Anstiegs-/FallzeitenEinzelnes Netzteil, VCC = 3,3 V +/–10 %Temperaturkompensierte TIA/EIA644-konforme LVDS-AusgängeInterner 50-Abschlusswiderstand pro EingangsstiftGND + 50 mV bis VCC 50 mV VCMR-Bereich
Technische Daten
Eigenschaft | Wert |
---|---|
Takt-/Zeitgeberfunktion | Taktumsetzer |
Kit-Klassifizierung | Evaluierungsplatine |
Vorgestelltes Gerät | NB4N527SMNG |
- RS Best.-Nr.:
- 161-0873
- Herst. Teile-Nr.:
- NB4N527SMNEVB
- Marke:
- ON Semiconductor