Sick KTS Core Kontrastsensoren 13 mm, IP67, NPN, PNP 100 mA, 10 → 30 V dc

Weiße LED oder RGB-LED
Hohe graue Linienauflösung
Sehr großer Dynamikbereich bedeutet eine zuverlässige Erkennung von Kontrasten Glänzende Materialien
25 kHz Schaltfrequenz
Anzeige für einfache Sensoreinstellung
2-Punkt- und dynamisches Teach-In
Manuelle Schaltschwelleneinstellung
Hell-/dunkelschaltend

Hohe Schaltfrequenz für den Einsatz in schnellen Maschinenprozessen mit Hohe Anforderungen an die Schaltgenauigkeit
Anzeige und flexible Sensoreinstellungen für einfache Sensorhandhabung und Benutzerfreundliche Bedienung
Die hohe graue Linienauflösung ermöglicht die Erkennung sehr kleiner Linien Kontrastunterschiede und hochglänzende Materialien - hohe Prozessstabilität und Weniger Ausfallzeiten
Verschiedene Teach-In-Prozesse für ideale Sensor- und Prozesseinstellung in Verschiedene Anwendungen
Manuelle Schaltschwelleneinstellung unterstützt stabile Materialerkennung und Einzelmessung Sensoranpassung an verschiedene Kontraste

Hohe Leistung für den universellen Einsatz in einer Vielzahl von Anwendungen: Der neue KTS Core in modernem Design mit weißer LED oder RGB-LED und VISTAL ® Gehäuse besticht durch seine Schaltfrequenz und graue Linienauflösung, verschiedene Teach-In-Varianten und manuelle Schaltschwelleneinstellung. Eine Ansprechzeit von 20 μs und ein Jitter von 10 μs sorgen für eine zuverlässige und genaue Erkennung von Kontrastunterschieden, z. B. in Druckmarken, selbst auf Hochglanz-Materialien. Dank verschiedener Teach-In-Prozesse und manueller Schaltschwelleneinstellung ist die Inbetriebnahme flexibler und die Erkennung stabiler. Der KTS Core erkennt selbst kleinste Kontrastunterschiede und ist daher gut für den Einsatz in einer Vielzahl von Anwendungen geeignet.

Anwendungen, bei denen Kontrast ein entscheidender Unterscheidungsmerkmal ist
Druckmarken-Erkennung zur Steuerung des Schneidprozesses
Drucksteuerung in der Druck- und Papierindustrie
Positionierung von Rohren beim Füllen
Etikettenausrichtung auf Flaschen
Überwachung von Wafer-Oberflächen
Rollenendüberwachung
Kontrastmarken-Erkennung