STMicroelectronics SPC563M64L7COBY Mikrocontroller AEC-Q100 SPC563M6 32-Bit-MCU 32 bit Oberfläche 1.5MB Flash LQFP-176
- RS Best.-Nr.:
- 330-564
- Herst. Teile-Nr.:
- SPC563M64L7COBY
- Marke:
- STMicroelectronics
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Technische Daten
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Produktdetails
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Alle auswählen | Eigenschaft | Wert |
|---|---|---|
| Marke | STMicroelectronics | |
| Produkt Typ | Mikrocontroller | |
| Serie | SPC563M6 | |
| Gehäusegröße | LQFP-176 | |
| Montageart | Oberfläche | |
| Pinanzahl | 176 | |
| Gerätekern | 32-Bit-MCU | |
| Datenbus-Breite | 32bit | |
| Programmspeicherkapazität | 1.5MB | |
| Schnittstellentyp | EBI, JTAG, CAN, Nexus, DSPI | |
| Taktfrequenz max. | 64MHz | |
| RAM Größe | 94kB | |
| Maximale Versorgungsspannung | 5.25V | |
| Maximale Verlustleistung Pd | 400mW | |
| Betriebstemperatur min. | -40°C | |
| Maximale Betriebstemperatur | 150°C | |
| Normen/Zulassungen | IEEE-ISTO 5001-2003, IEEE 1149.1 | |
| Länge | 24mm | |
| Minimale Versorgungsspannung | 4.5V | |
| Automobilstandard | AEC-Q100 | |
| Programmspeicher-Typ | Flash | |
| Befehlssatz-Architektur | Power Architecture | |
| Alle auswählen | ||
|---|---|---|
Marke STMicroelectronics | ||
Produkt Typ Mikrocontroller | ||
Serie SPC563M6 | ||
Gehäusegröße LQFP-176 | ||
Montageart Oberfläche | ||
Pinanzahl 176 | ||
Gerätekern 32-Bit-MCU | ||
Datenbus-Breite 32bit | ||
Programmspeicherkapazität 1.5MB | ||
Schnittstellentyp EBI, JTAG, CAN, Nexus, DSPI | ||
Taktfrequenz max. 64MHz | ||
RAM Größe 94kB | ||
Maximale Versorgungsspannung 5.25V | ||
Maximale Verlustleistung Pd 400mW | ||
Betriebstemperatur min. -40°C | ||
Maximale Betriebstemperatur 150°C | ||
Normen/Zulassungen IEEE-ISTO 5001-2003, IEEE 1149.1 | ||
Länge 24mm | ||
Minimale Versorgungsspannung 4.5V | ||
Automobilstandard AEC-Q100 | ||
Programmspeicher-Typ Flash | ||
Befehlssatz-Architektur Power Architecture | ||
RoHS Status: Ausgenommen
- Ursprungsland:
- MT
Die 32-Bit-MCU auf Basis der Power Architecture von STMicroelectronics wurde für Anwendungen im Automobil-Antriebsstrang entwickelt und bietet hohe Leistung und Zuverlässigkeit für kritische Systeme in Automobilumgebungen.
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