Keithley 2600B 4-Kanal Sourcemeter 20,2 W, 100 → 240 V ac / 100 nA → 3 A, 1 KΩ

Das 2606B System SourceMeter Source Measure Unit (SMU) Instrument bietet vier 20-Watt-SMU-Kanäle in einem 1HE Gehäuse mit hohem Formfaktor. Das 2606B basiert auf der SMU-Technologie der dritten Generation von Keithley und bietet die kombinierten Funktionen einer Präzisionsstromversorgung, einer Echtstromquelle, eines 6-stelligen DMM, eines Arbiträrgenerators und eines Pulsgenerators – alles in einem eng integrierten Gerät. Daraus ergibt sich eine leistungsfähige Lösung, die eine erhebliche Steigerung der Produktivität für anspruchsvolle automatisierte Qualifizierungs- und Produktionstests für optoelektronische Geräte wie z. B. VCSELs/Laserdioden zur 3D-Erfassung, Telekommunikation und LEDs in Produkten der Unterhaltungselektronik und Automobilindustrie sowie integrierte Geräte wie analoge ICs, ASICs und SoC-Geräte (System-on-a-Chip) ermöglicht. Wenn eine hohe Anzahl von SMU-Kanälen erforderlich ist, können mehrere 2606B-Einheiten übereinander gestapelt werden, ohne dass Abstände zur Wärmeableitung zwischen den Geräten erforderlich sind. Integrierte Webbrowser-basierte Software ermöglicht die Kommunikation mit dem 2606B über jeden Computer von überall auf der ganzen Welt aus. Für automatisierte Systemanwendungen führt die TSP®-Technologie (Test Script Processor) des 2606B vollständige Prüfprogramme aus dem Messgerät heraus aus, um den branchenbesten Durchsatz zu erreichen. In größeren Mehrkanal-Anwendungen wirkt die TSP-Link®-Technologie von Keithley im Zusammenspiel mit der TSP Technologie, sodass SMU-pro-Stift-Paralleltests mit hoher Geschwindigkeit möglich sind. Jedes 2606B-SMU ist codekompatibel mit dem branchenführenden 2602B System SourceMeter Source Measure Unit (SMU) Instrument von Keithley, wenn Sie die neuen Serien verwenden.

• Vierkanaliges SMU-Gerät in einem einzigen 1HE-Vollrack-Gehäuse
• Stapelbar; kein 1HE-Abstand zwischen Einheiten erforderlich
• Eng integrierte Spannungs-/Stromquellen- und Messgeräte bieten beste Performance mit 6 1/2-stelliger Auflösung
• Energiebedarf: 20 V @ 1 A und 6 V @ 3 A, 20 Watt
• 0,015% DCV-Grundgenauigkeit
• Bis zu 28 digitale Open-Drain-E/A-Bits
• Korrelierte Ergebnisse zum 2602B System SourceMeter SMU Instrument
• Die TSP-Technologie bettet komplette Testprogramme in das Gerät ein, um den Durchsatz auf Systemebene zu optimieren
• TSP-Link-Erweiterungstechnologie für parallele Mehrkanalprüfungen ohne Mainframe
• Frontplatten-LAN (LXI-C), USB 2.0 TMC488-Protokoll und digitale I/O-Schnittstellen
• Integrierte Webbrowser-basierte Software ermöglicht die Fernsteuerung über jeden beliebigen Browser auf jedem beliebigen Computer von überall auf der Welt aus

• Funktionstests I-V und Charakterisierung eines breiten Spektrums von Geräten:
• Optoelektronische Geräte
– VCSELs (Vertical Cavity Surface Emitting Laser), Laserdioden (verwendet in 3D-Erfassungssystemen)
– Hohe Helligkeit (HBLEDs), Leuchtdioden (LEDs)
– Displays
• Integrierte Geräte, SSI (Small Scale Integrated) und LSI (Large Scale Integrated)
– Analoge ICs
– Integrierte Hochfrequenz-Schaltkreise (RFICs)
– Anwendungsspezifische integrierte Schaltkreise (ASICs)
– SoC-Geräte (System on a Chip)
• Diskrete und passive Komponenten
– Sensoren mit zwei Drähten, Festplattenlaufwerksköpfe, Metalloxid-Varistoren (MOVs), Dioden, Zenerdioden, Sensoren, Kondensatoren, Heißleiter
– Bipolare Kleinsignal-Sperrschichttransistoren (BJTs) mit drei Drähten, Feldeffekttransistoren (FETs) und weitere
• Einfache ICs, Optokoppler, Treiber, Schalter, Sensoren, Konverter, Regler