TE Connectivity Absolutdruck-Sensor, 45psi 15psi THT 8-Pin PDIP
- RS Best.-Nr.:
- 170-4376
- Herst. Teile-Nr.:
- 1230-015D-3S
- Marke:
- TE Connectivity
Nicht verfügbar
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- RS Best.-Nr.:
- 170-4376
- Herst. Teile-Nr.:
- 1230-015D-3S
- Marke:
- TE Connectivity
Technische Daten
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Produktdetails
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Alle auswählen | Eigenschaft | Wert |
|---|---|---|
| Marke | TE Connectivity | |
| Überdruck max. | 45psi | |
| Sensor-Typ | Absolutdrucksensoren | |
| Montage-Typ | THT | |
| Gehäusegröße | PDIP | |
| Pinanzahl | 8 | |
| Abmessungen | 15.24 x 14.73 x 4.24mm | |
| Betriebsdruck max. | 15psi | |
| Betriebstemperatur max. | +125 °C | |
| Ausgangsspannung max. | 0,1 V | |
| Ausgangsspannung min. | 0 V | |
| Betriebstemperatur min. | –40 °C | |
| Alle auswählen | ||
|---|---|---|
Marke TE Connectivity | ||
Überdruck max. 45psi | ||
Sensor-Typ Absolutdrucksensoren | ||
Montage-Typ THT | ||
Gehäusegröße PDIP | ||
Pinanzahl 8 | ||
Abmessungen 15.24 x 14.73 x 4.24mm | ||
Betriebsdruck max. 15psi | ||
Betriebstemperatur max. +125 °C | ||
Ausgangsspannung max. 0,1 V | ||
Ausgangsspannung min. 0 V | ||
Betriebstemperatur min. –40 °C | ||
- Ursprungsland:
- CN
Drucksensoren der Serie 1230 Ultrastable von TE Connectivity
Die Sensoren der Serie 1230 Ultrastable™ von TE Connectivity sind piezoresistive Silizium-Drucksensoren. Verpackt in einer Dual-in-Line-Konfiguration bieten diese Drucksensoren eine langfristige Stabilität über einen großen Temperaturbereich und eine exzellente Leistung. Lasergeschnittene Widerstände bieten eine integrierte Temperaturkompensation im Bereich von –20 °C bis +85 °C, und ein zusätzlich lasergeschnittener Widerstand ermöglicht die Normalisierung schwankender Druckempfindlichkeiten. Sie eignen sich für Anwendungen wie Prozesssteuerung, Fabrikautomation, medizinische Instrumente, Höhenmessung, tragbare Kalibratoren und Umweltkontrolle.
Eigenschaften und Vorteile
Absolut-, Differenzial- und Überdruckbereiche von 0 psi bis 15 psi bis 0 psi bis 100 psi sind erhältlich
Zuverlässigkeit von Halbleitern
Dual-in-Line-Gehäuse
±0,1 % Linearität
1 % austauschbare Spanne
Zuverlässigkeit von Halbleitern
Dual-in-Line-Gehäuse
±0,1 % Linearität
1 % austauschbare Spanne
