OSI Optoelectronics Spot Fotodiode Infrarot 65 ° 970 nm, Durchsteckmontage TO-18-Gehäuse 3-Pin
- RS Best.-Nr.:
- 183-7141
- Herst. Teile-Nr.:
- PIN-SPOT2DMI
- Marke:
- OSI Optoelectronics
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Technische Daten
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Produktdetails
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Alle auswählen | Eigenschaft | Wert |
|---|---|---|
| Marke | OSI Optoelectronics | |
| Produkt Typ | Fotodiode | |
| Erkannte Spektren | Infrarot | |
| Wellenlänge der max. Empfindlichkeit | 970nm | |
| Gehäusegröße | TO-18 | |
| Verpackungsart | Band und Rolle | |
| Montageart | Durchsteckmontage | |
| Anzahl der Pins | 3 | |
| Wellenlänge min. | 350nm | |
| erfasste Wellenlänge max. | 1100nm | |
| Fallzeit typ. | 0.6ns | |
| Verstärkt | Nein | |
| Betriebstemperatur min. | -25°C | |
| Maximale Betriebstemperatur | 85°C | |
| Länge | 4.64mm | |
| Höhe | 0.14Zoll | |
| Normen/Zulassungen | RoHS | |
| Breite | 5mm | |
| Empfindlichkeit-Halbwertswinkel | 65 ° | |
| Durchmesser | 5.33mm | |
| Dunkelstrom | 0.2nA | |
| Automobilstandard | Nein | |
| Polarität | Invertiert | |
| Serie | Spot | |
| Regelanstiegszeit | 11ns | |
| Durchschlagspannung | 30V | |
| Alle auswählen | ||
|---|---|---|
Marke OSI Optoelectronics | ||
Produkt Typ Fotodiode | ||
Erkannte Spektren Infrarot | ||
Wellenlänge der max. Empfindlichkeit 970nm | ||
Gehäusegröße TO-18 | ||
Verpackungsart Band und Rolle | ||
Montageart Durchsteckmontage | ||
Anzahl der Pins 3 | ||
Wellenlänge min. 350nm | ||
erfasste Wellenlänge max. 1100nm | ||
Fallzeit typ. 0.6ns | ||
Verstärkt Nein | ||
Betriebstemperatur min. -25°C | ||
Maximale Betriebstemperatur 85°C | ||
Länge 4.64mm | ||
Höhe 0.14Zoll | ||
Normen/Zulassungen RoHS | ||
Breite 5mm | ||
Empfindlichkeit-Halbwertswinkel 65 ° | ||
Durchmesser 5.33mm | ||
Dunkelstrom 0.2nA | ||
Automobilstandard Nein | ||
Polarität Invertiert | ||
Serie Spot | ||
Regelanstiegszeit 11ns | ||
Durchschlagspannung 30V | ||
Hohe Genauigkeit
Ausgezeichnete Auflösung
Hohe Ansprechgeschwindigkeit
Extrem niedriger Dunkelstrom
Ausgezeichnetes Ansprechverhalten
Hohe Stabilität über lange Zeiträume und große Temperaturänderungen
ANWENDUNGEN
Ausrichtung von Werkzeugmaschinen
Positionsmessung
Strahlzentrierung
Oberflächenprofilierung
Zielend
Führungssysteme
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