Sick W4-3 Kubisch Optischer Sensor, Durchgangsstrahl, Bereich 0 → 4 m, Dunkelschaltung Ausgang, M8-Steckverbinder

Bester Hintergrundunterdrückungssensor seiner Klasse
Universeller Einsatz der PinPoint Technologie in allen Modellen
BGS-Näherungssensor mit laserähnlichen Lichtfleck für präzise Erkennung Aufgaben
Zuverlässige Einstellung über 5-Drehpotenziometer, Teach-In-Drucktaste, Teach-In über Kabel oder IO-Link
Flexible Sensoreinstellungen, Überwachung, erweiterte Diagnose und Anzeige dank I/O-Link

Kostengünstige Integration durch optimale Maschinenintegration in Bereichen mit Begrenzter Platz
Anwendungsflexibilität durch zuverlässige Erkennung von glänzendem oder strahlschwarzem Objekte
Robustes Befestigungssystem mit M3-Gewindeeinsätzen reduziert die Wartung Kosten durch eine lange Lebensdauer
Hohe Störfestigkeit gegen Umgebungslicht reduziert die Ausfallzeiten durch Fehlstellen Reisen
Deutlich sichtbarer Lichtpunkt vereinfacht die Ausrichtung
IO-Link ermöglicht einen einfachen Datenzugriff von der SPS aus
Schnelle und einfache Konfiguration
Schnelle und einfache Integration mit Funktionsblöcken

Die photoelektrischen Sensoren der W4-3-Familie bieten erstklassige Leistung in einem Miniaturgehäuse. Mit den neuesten ASIC- und PinPoint-LED-Technologien bieten diese Sensoren eine zuverlässige Objekterkennung von transparenten und glänzenden Objekten wie Blasen, E-Karten und Aluminiumdosen. Optische Achsen auf der flachen Seite ermöglichen eine einfache, platzsparende Integration in Maschinenumgebungen - auch ohne Montagehalterungen.

Zuverlässige Erkennung von unregelmäßig geformten Leiterplatten.
Überprüfung der Lagerplatzbelegung
Äquidistante Einspeisung von Produkten
Papierreißüberwachung
Anwesenheitsprüfung auf Papier
Erkennung von Papierkanten
Erkennung der Vorderkante und Anwesenheitsprüfung
Bogens- und Stanzüberwachung
Anwesenheit und Positionsüberwachung von Blechen
Anwesenheits- und Zählprozess
Kollisionsbewusstsein am Bearbeitungstisch
Überwachung des Materialtransports
Überstandsüberwachung auf dem Fachstapel
Füllstandsüberwachung im Teilebunker
Erkennung von Solarwafern in rauen Wafer-Produktionsumgebungen
Erkennung von Solarwafern in rauen Zellproduktionsumgebungen
Erkennung, Messung und Positionierung des Solarglas-Substrats
Überstandsüberwachung von Solarglas-Substraten
Referenzpositionierung
Positionierung und Geschwindigkeitsmessung auf dem Shuttle
Vollständige Überwachung des Laststatus mittels Photoelektrischer Näherungssensor, der direkt in das Lasthandlinggerät integriert ist