Tektronix TDP TDP1000 Oszilloskoptastkopf Differenzial 1 GHz 30 V
- RS Best.-Nr.:
- 668-7167
- Distrelec-Artikelnummer:
- 110-29-489
- Herst. Teile-Nr.:
- TDP1000
- Marke:
- Tektronix
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Technische Daten
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Produktdetails
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Alle auswählen | Eigenschaft | Wert |
|---|---|---|
| Marke | Tektronix | |
| Prüfsonden Typ | Differenzial | |
| Produkt Typ | Oszilloskoptastkopf | |
| Bandbreite | 1GHz | |
| Gleichtakt-Spannungseingang max. | 30V | |
| Modellnummer | TDP1000 | |
| Serie | TDP | |
| Normen/Zulassungen | ISO 9001, CE, ISO 14001 | |
| Anstiegszeit | 350ps | |
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|---|---|---|
Marke Tektronix | ||
Prüfsonden Typ Differenzial | ||
Produkt Typ Oszilloskoptastkopf | ||
Bandbreite 1GHz | ||
Gleichtakt-Spannungseingang max. 30V | ||
Modellnummer TDP1000 | ||
Serie TDP | ||
Normen/Zulassungen ISO 9001, CE, ISO 14001 | ||
Anstiegszeit 350ps | ||
RoHS Status: Nicht zutreffend
- Ursprungsland:
- US
Oszilloskoptastköpfe Tektronix
Die Tektronix-Oszilloskop-Tastkopf mit Differenzspannung bietet eine ausgezeichnete elektrische und mechanische Hochgeschwindigkeitsleistung, die für Schaltnetzteile (SMPS), CAN/LIN-Bus und Hochgeschwindigkeits-Digitalsysteme erforderlich ist.
Eigenschaften und Vorteile
Die Bandbreite beträgt DC bis 1 GHz
Dämpfung ist 50:1/5:1
Anstiegszeit beträgt 350 ps
Differenzialmodus-Eingangsspannung beträgt ±42 V (DC + pk AC); 30 V eff
Die Eingangsimpedanz beträgt 1 MOhm ll< 1 pF auf jeder Seite zur Erde
Gleichtakt-Spannungsbereich beträgt ±30 V (DC + pk AC); 25 V eff
Zerstörungsfreie max. Eingangsspannung: ±100 V (DC + pk AC)
CMRR (typisch) ist 55 dB bei 30 kHz> 50 dB bei 1 MHz> 18 dB bei 250 MHz
Wählbare Bandbreitenbegrenzungsfilter
DC-Ausweisung
Kann über die TekVPI-Tastkopfschnittstelle mit einigen Tektronix Oszilloskopen verbunden werden
Einfacher Zugriff auf das im Oszilloskop angezeigte Sondenmenü für die Sondeneinrichtung und Betriebsstatusinformationen
Auto-Zero - Nullpunkt-Ausgangsoffset
Anwendungen
Hochgeschwindigkeits-Schaltnetzteil-Design
CAN/LIN-Bus-Design
Digitales Design und Charakterisierung
Fertigungstechnik-Test
Forschung und Entwicklung
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