Sick NPN LWL-Sensor 0 bis 1400 mm (Näherungssystem), 0 → 18000 mm (Durchgangsstrahlsystem) 4-Draht 31,2 kHz

Wählbare Ansprechzeit bis zu 16 μs
Erfassungsbereich bis zu 20 m (Durchgangsstrahlsystem)

Zuverlässige, Rapid Process Detection, selbst unter schwierigsten Umgebungsbedingungen wie Staub, Spray oder Nebel
Einfache Inbetriebnahme und Produktwechsel durch externes Teach-In
Bei Verwendung der Buskonfigurationsoption wird das Übersprechen eliminiert
Schnelle, einfache Einrichtung und Einstellung durch ein intuitives Bedienmenü
Flexible Parametereinstellung durch hochauflösende Signalverarbeitung. Hysterese und Zeitverzögerungen können an die Anwendung angepasst werden, z. B. bei der Erkennung winziger oder transparenter Objekte
Gut ablesbares Display, selbst unter schwierigen Installationsbedingungen
Zuverlässige optische Erkennung in Vakuumumgebungen
Überstandsüberwachung in der Aufnahmeposition von Solarzellen
Kennzeichnung von Zellen

Die LWL-Lichtschranken der Serie WLL180T bieten die weltweit schnellste Ansprechzeit - nur 16 μs. Darüber hinaus bietet er überlegene Erfassungsabstände von bis zu 20 m und seine hohe Lichtintensität liefert eine zuverlässige, leistungsstarke Lösung - selbst unter schwierigen Umgebungsbedingungen wie Staub, Spray, Nebel und Wasserstrahlen. Die Inbetriebnahme ist einfach - entweder über den externen Teach-In-Eingang oder direkt am Gerät. Zwei, vierstellige Anzeigen bieten eine Visualisierung aller Programmierschritte, Statusanzeigen sowie Ziel- und Istwerte über eine intuitive Menüstruktur. Die WLL180T-Sensoren können je nach Anforderung entweder als eigenständige oder in einer Buskonfiguration betrieben werden. In einer Buskonfiguration werden mehrere Sensoren über einen internen Bus vernetzt, sodass die Einstellungen auf einem WLL180T auf alle anderen Geräte auf dem Bus kopiert werden können. LWL-Verstärker-Kreuzsprechen wird durch die integrierte Anti-Interferenzlogik der Sensoren verhindert.

Erkennung von Leiterplatten
Messung des Füllstands der Flasche
Messung des Füllstands der Flasche
Protokollerkennung und -klassifizierung
Erkennung von Abscantling
Vorhandensein und Füllstand im Singulationssystem prüfen
Erkennung von Teilen im Greifer und im Spritzgusswerkzeug
Überwachung der Greiferposition
Prüfen Sie das Vorhandensein und die Endposition des Teils in der Ladeplatte
Prüfen des Vorhandenseins in den Einsteckgreifern und SpritzgusswerkzeugPrüfen Anwesenheit in der Station
Sichere Erkennung an engen Orten, ohne Störungen
Qualitäts- und Positionsüberwachung auf Förderbändern
Anwesenheitsüberwachung der zugeführten Teile in einer Station
Anwesenheitsüberwachung von kleinen Objekten im Greifer mit Lichtwellenleiter Sensoren
Schnelle und genaue Wafer-Erkennung
Erkennung von Lecks in chemischen Behältern
Erkennungs- und Positionierungslösungen in Drahtbond-Maschinen
Zuverlässige Erkennung von Halbleiterchips auf Schalen
Doppelschichterkennung von Solarwafern in der Wafer-Produktion