Sick W4-3 Kubisch Optischer Sensor, Hintergrundunterdrückung, Bereich 4 mm → 150 mm, NPN Ausgang,

Bester Hintergrundunterdrückungssensor seiner Klasse
Universeller Einsatz der PinPoint Technologie in allen Modellen
BGS-Näherungssensor mit laserähnlichen Lichtfleck für präzise Erkennung Aufgaben
Zuverlässige Einstellung über 5-Drehpotenziometer, Teach-In-Drucktaste, Teach-In über Kabel oder IO-Link
Flexible Sensoreinstellungen, Überwachung, erweiterte Diagnose und Anzeige dank I/O-Link

Kostengünstige Integration durch optimale Maschinenintegration in Bereichen mit Begrenzter Platz
Anwendungsflexibilität durch zuverlässige Erkennung von glänzendem oder strahlschwarzem Objekte
Robustes Befestigungssystem mit M3-Gewindeeinsätzen reduziert die Wartung Kosten durch eine lange Lebensdauer
Hohe Störfestigkeit gegen Umgebungslicht reduziert die Ausfallzeiten durch Fehlstellen Reisen
Deutlich sichtbarer Lichtpunkt vereinfacht die Ausrichtung
IO-Link ermöglicht einen einfachen Datenzugriff von der SPS aus
Schnelle und einfache Konfiguration
Schnelle und einfache Integration mit Funktionsblöcken

Die photoelektrischen Sensoren der W4-3-Familie bieten erstklassige Leistung in einem Miniaturgehäuse. Mit den neuesten ASIC- und PinPoint-LED-Technologien bieten diese Sensoren eine zuverlässige Objekterkennung von transparenten und glänzenden Objekten wie Blasen, E-Karten und Aluminiumdosen. Optische Achsen auf der flachen Seite ermöglichen eine einfache, platzsparende Integration in Maschinenumgebungen - auch ohne Montagehalterungen.

Überprüfung der Lagerplatzbelegung
Kollisionsbewusstsein am Bearbeitungstisch
Vollständige Überwachung des Laststatus mittels Photoelektrischer Näherungssensor, der direkt in das Lasthandlinggerät integriert ist
Erkennung von Papierkanten
Erkennung von Solarwafern in rauen Zellproduktionsumgebungen
Erkennung von Solarwafern in rauen Wafer-Produktionsumgebungen
Erkennung, Messung und Positionierung des Solarglas-Substrats
Äquidistante Einspeisung von Produkten
Erkennung der Vorderkante und Anwesenheitsprüfung
Füllstandsüberwachung im Teilebunker
Überwachung des Materialtransports
Papierreißüberwachung
Positionierung und Geschwindigkeitsmessung auf dem Shuttle
Anwesenheitsprüfung auf Papier
Anwesenheits- und Zählprozess
Überstandsüberwachung von Solarglas-Substraten
Überstandsüberwachung auf dem Fachstapel
Referenzpositionierung
Zuverlässige Erkennung von unregelmäßig geformten Leiterplatten.
Anwesenheit und Positionsüberwachung von Blechen
Bogens- und Stanzüberwachung

Produktdetails decken die gesamte Produktfamilie ab. Details zu den Spezifikationen für dieses einzelne Produkt finden Sie im Datenblatt.